ICS 31-030 L 90 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5594.6—2015 代替GB/T5594.6—1985 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 Test methods for properties of structure ceramics usedin electroniccomponentanddevice- Part 6:Test method for chemical durability 2015-05-15发布 2016-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 5594.6—2015 前言 GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》分为以下部分： 气密性测试方法（GB/T5594.1)； 杨氏弹性模量泊松比测试方法（GB/T5594.2)； 一第3部分：平均线膨胀系数测试方法（GB/T5594.3)； 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法（GB/T5594.4)； 一体积电阻率测试方法（GB/T5594.5)； 第6部分：化学稳定性测试方法（GB/T5594.6)； 第7部分：透液性测定方法（GB/T5594.7）)； 第8部分：显微结构测定方法（GB/T5594.8）； 一电击穿强度测试方法（GB/T5594.9）。 本部分为GB/T5594的第6部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分代替GB/T5594.6一1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法化学稳定性测试方 法》。 本部分与GB/T5594.6—1985相比，主要有下列变化： 标准名称改为：“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第6部分：化学稳定性测试方法”； 在“6.1.1”中，将测试样品数量由原来的2个修改为3个，增加了“选择无气孔、无裂纹及无其他 缺陷的试样”； 在“6.1.2”中，修改了“皂片溶液”为“去污粉”； 在“6.2.3”中，修改了“甘油溶液作为水浴锅加热溶液”为“蒸馏水作为水浴锅加热溶液”； 在"7.1”和“7.2”中，将试样重量修改为质量，符号由G修改为m，计算公式相应修改。 增加了“8测试结果及报告”。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由中国电子技术标准化研究院归口。 本部分起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、北京七星飞行电子有限公司。 本部分主要起草人：何晓梅、曾桂生、何诗静。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为： GB/T5594.6—1985。 1