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ICS 71.040.50 G 04 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T18907—2013/ISO25498:2010 代替GB/T18907—2002 微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法 Microbeam analysis-Analytical electron microscopy-Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope (ISO25498:2010,IDT) 2013-07-19发布 2014-03-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会 GB/T18907—2013/ISO25498;2010 目次前言引言 1 范围 2 规范性引用文件术语、符号和定义…· 原理 5 仪器设备 6 试样 7 标准物质 8 试验方法 9 SAED谱的测量和标定 10180°不确定性 11不确定度评估附录A（资料性附录）纯金与纯铝的晶面间距表 3 附录B（资料性附录）结构为BCC、FCC和HCP的单晶体斑点衍射谱参考文献

GB-T 18907-2013 微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法

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