ICS17.040.30 J 42 中华人民共和国国家标准 GB/T 22093—2018 代替GB/T22093—2008 电子数显内径千分尺 Internal micrometer with electronic digital display 2018-12-01实施 2018-05-14发布 国家市场监督管理总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T22093—2018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T22093—2008《电子数显内径千分尺》。本标准与GB/T22093—2008相比，除编 辑性修改外，主要技术变化如下： 一扩大电子数显内径千分尺的测量范围到1000mm（见第1章，2008年版的第1章）； 修改了电子数显数显装置的定义（见3.1，2008年版的3.1)； 增加了电子数显内径千分尺的定义（见3.2）； 一增加了测微螺杆螺距为2mm的电子数显内径千分尺（见4.2.1)； 增加了对电子数显内径千分尺测量力范围的规定（见5.5）； 修改了示值最大允许误差的要求和规定值（见5.13和表2，2008年版的5.13和表2）； 增加了对量程大于25mm的电子数显内径千分尺的示值最大允许误差的规定（见5.13.1)； 一增加了A型电子数显内径千分尺锁紧变化的检验方法（见6.1)； 修改了分度误差检验方法中注2（见6.3.1，2008年版的6.2.1）； 修改了示值误差的检验方法（见6.4，2008年版的6.3）； 一增加了示值误差检验方法的B组尺寸系列（见6.4和表3）； 增加了量程等于50mm的示值误差检验尺寸系列（见6.4和表3）； 把附录B的部分内容移到正文里（见5.13和表2，2008年版的附录B）； 删除了对角度传感器等分数的规定（见2008年版的5.12.3）。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。 本标准负责起草单位：苏州麦克龙测量技术有限公司。 本标准参加起草单位：成都工具研究所有限公司、桂林量具刃具有限责任公司、桂林广陆数字测控 有限公司广西壮族自治区计量检测研究院、辽宁省计量科学研究院。 本标准主要起草人：黄晓宾、王荣华、许刚、赵伟荣、闫列雪、阳明珠、杨斌。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： GB/T 22093—2008。 GB/T 22093—2018 电子数显内径干分尺 1范围 本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、试验方法、 标志与包装。 本标准适用于分辨力为0.001mm，量程小于或等于100mm，测量范围上限至1000mm的电子数 显内径干分尺。测量范围1000mm～6000mm的A型电子数显内径千分尺参见附录A。 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T1216—2018外径千分尺 GB/T2423.3—2016环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验 GB/T2423.222012环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 GB/T42082017外壳防护等级（IP代码） GB/T1800.22009产品几何技术规范（GPS）极限与配合第2部分：标准公差等级和孔、轴 极限偏差表 GB/T17163—2008 儿何量测量器具术语基本术语 GB/T17164—2008 几何量测量器具术语产品术语 GB/T17626.22006 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.3—2016 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T246342009 产品几何技术规范（GPS）GPS测量设备通用概念和要求 3术语和定义 GB/T17163—2008、GB/T17164—2008和GB/T24634—2009界定的以及下列术语和定义适用 于本文件。 3.1 电子数显千分尺数显装置electronicdigitalindicatingdevices formicrometer 利用传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显内径千分尺的测微螺杆位移的装置。 注：以下简称“电子数显装置”。 3.2 电子数显内径千分尺internalmicrometerwithelectronicdigitaldisplay 利用电子数显装置，对两测量面分隔的内尺寸或三测量面接触的内孔进行测量读数的测量器具。 4型式与基本参数 4.1型式 电子数显内径千分尺的型式见图1和图2所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构 1 GB/T22093—2018 测显面 心了数显装置 锁紧装置 微分简 测显面 176000 口口口 AI型 测量面 长度接杆 电广数鼎装置 锁紧装置 微分简 测量面 201000 口口口口 A2E 5AC a）A型：电子数显2点内径千分尺（测微螺杆轴线与角度传感器的轴线和测量面的位移同轴） 测虽面 锁紧裝置 子数显装置 微分筒 测力装胃 000h2 (0) b）B型：电子数显2点内径千分尺（测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移平行） 图1电子数显2点内径千分尺型式示意图 2 GB/T 22093—2018 测量IHi 测头 电了数显装置 测力装置 5000 c）C型：电子数显2点内径千分尺（测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移垂直） 图1（续） 测虽面 测头 深度接杆 巾子数显装置 测力装置 b 量不 0000h a）D型：电子数显3点内径千分尺（测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移垂直） 测头 深度接杆 电子数显装置 测力装置 量爪 70000 b）E型：电子数显3点内径千分尺（测微螺杆轴线与测量面的位移同轴，与角度传感器的轴线垂直） 图2电子数显3点内径千分尺型式示意图 4.2基本参数 4.2.1电子数显内径千分尺测微螺杆的螺距宜为0.5mm、1mm或2mm。 4.2.2A型、B型电子数显内径千分尺的量程宜为25mm，测量范围下限宜为5mm或25mm的整 数倍。 4.2.3 C型、D型、E型电子数显内径千分尺的测量范围的下限宜为整数。 5要求 5.1 外观 5.1.1 电子数显内径千分尺表面不得有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷 3 GB/T22093—2018 5.1.2电子数显内径千分尺表面的镀、涂层不得有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。 5.1.3电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等影响读数的缺陷 5.2材料 测微螺杆应选择合金工具钢、不锈钢或其他类似性能的材料制造；测量面宜镶硬质合金或其他耐磨 材料。 5.3相互作用 5.3.2D型、E型电子数显内径千分尺的量爪与槽或孔之间的配合应良好，且移动自如，不得出现卡滞， 沿测量面轴线方向不得有明显摆动。 5.4锁紧装置 A型电子数显内径千分尺应具有锁紧装置。锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆。锁紧前、后，两 测量面间的距离变化不应大于2um。 5.5测力装置 B型、C型、D型、E型电子数显内径千分尺应具有测力装置，通过测力装置作用到测量面的测量力 应一致。 B型，C型和测量范围l≤12mm的D型：测量力宜为4N~10N，测量力变化不应天于2N。 测量范围12mm<l≤100mm的D型和E型：测量力宜为10N~35N，测量力变化不应大于30%。 测量范围1>100mm的D型和E型：测量力宜为15N～40N，测量力变化不应大于30%。 5.6测量面 5.6.1电子数显内径千分尺测量面宜为球形或圆柱形表面，其半径应小于测量范围下限的1/2。 5.6.2测量面也可以是其他形状，以适合特殊测量任务的要求。 552 HV(或 52.5 HRC)。 5.7测头和量爪 C型、D型、E型电子数显内径千分尺可以配备数个测头或量爪，通过更换测头或量爪扩大测量 范围。 5.8长度接杆 5.8.1A型电子数显内径千分尺可配备数个长度接杆以扩大测量范围 5.8.2长度接杆的基准面应一端为平面另一端为球面。 5.8.3长度接杆基准面的硬度不应小于740HV（或61.8HRC)。 5.8.4长度接杆基准尺寸的偏差不应大于GB/T1800.2—2009中规定的js2 5.9深度接杆 D型、E型电子数显内径千分尺宜配备深度接杆以扩大测量深度。接上深度接杆后需要重新校对。 5.10校对装置 5.10.1日 SAG 电子数显内径干分尺宜提供校对零位的环规或卡规。 4 GB/T22093—2018 5.10.2校对环规或校对卡规基准面的硬度不应小于740HV(或61.8HRC)。 5.10.3校对环规或校对卡规上的标注尺寸的偏差和测量面的圆柱度或平行度不应大于表1规定。 表1标注尺寸的偏差和测量面的圆柱度或平行度 单位为毫米 公称尺寸D 标注尺寸的偏差 圆柱度或平行度 1≤D<10 ±0.0013 0.001 10≤D<50 ±0.0015 0.001 50≤D<100 ±0.0015 0.0015 100≤D<200 ±0.002 0.002 200≤D≤300 ±0.0025 0.0025 5.11标尺标记 电子数显内径千分尺上的标尺标记按GB/T1216一2018中5.9的规定。 5.12 电子数显装置 5.12.1 功能键：电子数显装置的功能键应灵活、可靠，标注的符号或图文应清晰且含义准确。 5.12.2 数字显示屏：电子数显装置的数字显示应清晰、完整、无闪跳现象；字高不应小于4mm。 5.